10.1002/anie.201904883
Angewandte Chemie International Edition
COMMUNICATION
Yang, J. L. Lu, W. X. Huang, ACS Catal. 2016, 6, 3700-3707; c) B.
Bourguignon, S. Carrez, B. Dragnea, H. Dubost, Surf. Sci. 1998, 418,
171−180; d) T; Lear, R. Marshall, J. Antonio Lopez-Sanchez, S. D.
Jackson, T. M. Klapꢀtke, M. Bäumer, G. Rupprechter, H. J. Freund, D.
Lennon, J. Chem. Phys. 2005, 123, 174706; e) M. Peter, J. M.
Florescamacho, S. Adamovski, L. K. Ono, K. H. Dostert, C. P. O’Brien,
B. Roldancuenya, S. Schauermann, H. J.Freund, Angew. Chem. Int. Ed.
2013, 52, 5175-5179; f) K. Wolter, O. Seiferth, H. Kuhlenbeck, M.
Baumer, H. J. Freund, Surf. Sci. 1998, 399, 190-198; g) H. Feng, J. L.
Lu, P. C. Stair, J. W. Elam, Catal. Lett. 2011, 141, 512-517; h) G.
Tofighi, X. J. Yu, H. Lichtenberg, D. E. Doronkin, W. Wang, C. Wöll, Y.
M. Wang, J. Grunwaldt, ACS Catal. 2019, 9, 5462-5473.
Acknowledgements
This work was financially supported by the National Key R & D
Program of Ministry of Science and Technology of China
(2017YFB0602205), the National Natural Science Foundation of
China (21525313, 91745202, 21703227), the Chinese academy
of Sciences, and the Changjiang Scholars Program of Ministry of
Education of China.
Keywords: Pd/SiO2 • Atomic layer deposition • Stability •
Oxidation • Reduction
[13] a) H. Z. Bao, W. H. Zhang, Q. Hua, Z. Q. Jiang, J. L. Yang, W. X.
Huang, Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 12294-12298; b) Z. H. Zhang,
S. S. Wang, R. Song, T. Cao, L. F. Luo, X. Y. Chen, Y. X. Gao, J. Q. Lu,
W. X. Li, W. X. Huang, Nat. Commun. 2017, 8, 488; c) M. Yang, J. Z.
Zhang, Y. Y. Cao, M. F. Wu, K. Qian, Z. H. Zhang, H. Y. Liu, J. G.
Wang, W. Chen, W. X. Huang, ChemCatChem 2018, 10, 5128-5134; d)
Z. H. Zhang, H. Wu, Z. Y. Yu, R. Song, K. Qian, X. Y. Chen, J. Tian, W.
H. Zhang, W. X. Huang, Angew. Chem. Int. Ed. 2019, 58, 4276-4280.
[14] a) A. Bensalem, D. Tessier, F. Bozon-Verduraz, J. Soc. Alg. Chim.
1993, 2, 329; b) A. Bensalem, J. C. Muller, D. Tessier, F. Bozon-
Verduraz, J. Chem. Soc. Faradav Trans. 1996, 92, 3233-3237; c) M.
Skotak, Z. Karpiński, W. Juszczyk, J. Pielaszek, L. Kępiński, D. V.
Kazachkin, V. I. Kovalchuk, J. L. d’Itri, J. Catal. 2004, 227, 11–25; d) D.
Tessier, A. Rakai, F. Bozon-Verduraz, J. Chem. Soc. Faradav Trans.
1992, 88, 741-749.
[1]
a) M. Cargnello, J. J. D. Jaen, J. C. H. Garrido, K. Bakhmutsky, T.
Montini, J. J. C. Gamez, R. J. Gorte, P. Fornasiero, Science 2012, 337,
713-717; b) K. Murata, Y. Mahara, J. Ohyama, Y. Yamamoto, S. Arai, A.
Satsuma, Angew. Chem. Int. Ed. 2017, 56, 15993-15997.
[2]
a) M. Danielis, S. Colussi, C. de Leitenburg, L. Soler, J. Llorca, A.
Trovarelli, Angew. Chem. Int. Ed. 2018, 57, 10212-10216; b) A. Toso, S.
Colussi, S. Padigapaty, C. de Leitenburg, A. Trovarelli, Appl. Catal. B-
Environ. 2018, 230, 237–245; c) J. J. Willis, A. Gallo, D. Sokaras, H.
Aljama, S. H. Nowak, E. D. Goodman, L. H. Wu, C. J. Tassone, T. F.
Jaramillo, F. Abild-Pedersen, M. Cargnello, ACS Catal. 2017, 7, 7810-
7821.
[3]
[4]
[5]
a) N. M. Kinnunen, J. T. Hirvi, M. Suvanto, T. A. Pakkanen, J. Phys.
Chem. C 2011, 115, 19197-19202; b) N. M. Kinnunen, J. T. Hirvi, T.
Venäläinen, M. Suvanto, T. A. Pakkanen, Appl. Catal. A: Gen. 2011,
397, 54-61; c) X. H. Chen, Y. Zheng, F. Huang, Y. H. Xiao, G. H. Cai, Y.
C. Zhang, Y. Zheng, L. L. Jiang, ACS Catal. 2018, 8, 11016-11028.
a) H. F. Xiong, K. Lester, T. Ressler, R. Schlögl, L. F. Allard, A. K.
Datye, Catal. Lett. 2017, 147, 1095-1103; b) S. K. Matam, M. H.
Aguirre, A. Weidenkaff, D. Ferri, J. Phys. Chem. C 2010, 114, 9439–
9443; c) J. D. Grunwaldt, N. van Vegten, A. Baiker, Chem. Commun.
2007, 4635–4637.
[15] a) R. Kikuchi, S. Maeda, K. Sasaki, S. Wennerström, K. Eguchi, Appl.
Catal. A: Gen. 2002, 232, 23-28; b) R. Butch, F. J. Urbano, P. K.
Loader, Appl. Catal. A: Gen. 1995, 123, 173-184; c) O. Mihai, G.
Smedler, U. Nylén, M. Olofssond, L. Olsson, Catal. Sci. Technol. 2017,
7, 3084-3096; d) R. Gholami, M. Alyani, K. J. Smith, Catalysts 2015, 5,
561-594.
[16] a) S. Colussi, A. Trovarelli, G. Groppi, J. Llorca, Catal. Commun. 2007,
8, 1263-1266; b) P. Castellazzi, G. Groppi, P. Forzatti, Appl. Catal. B-
Environ. 2010, 95, 303-311; c) G. Groppi, C. Cristiani, L. Lietti, Stud.
Surf. Sci. Catal. 2000, 130, 3801-3806.
a) X. L. Feng, W. Li, D. P. Liu, Z. Zhang, Y. Duan, Y. Zhang, Small
2017, 13, 1700941-1700948; b) M. Monai, T. Montini, C. Chen, E.
Fonda, R. J. Gorte, P. Fornasiero, ChemCatChem 2015, 7, 2038-2046;
c) L. Adijanto, D. A. Bennett, C. Chen, A. S. Yu, M. Cargnello, P.
Fornasiero, R. J. Gorte, J. M. Vohs, Nano Lett. 2013, 13, 2252-2257.
a) C. Chen, Y. H. Yeh, M. Cargnello, C. B. Murray, P. Fornasiero, R. J.
Gorte, ACS Catal. 2014, 4, 3902-3909; b) T. M. Onn, S. Y. Zhang, L.
Arroyo-Ramirez, Y. C. Chung, G. W. Graham, X. Q. Pan, R. J. Gorte,
ACS Catal. 2015, 5, 5696-5701.
[17] a) J. H. Kwak, J. Z.Hu, D. H. Kim, J. Szanyi, C. H. F. Peden, J. Catal.
2007, 251, 189-194; b) J. H. Kwak, J. Z. Hu, D. H. Mei, C. W. Yi, D. H.
Kim, C. H. F. Peden, L. F. Allard, J. Szanyi, Science 2009, 325, 1670-
1673; c) K. L. Sung, Y. P. Sun, S. Y. Yoo, M. Jaehyun, J. Phys. Chem.
C 2010, 114, 13890-13894; d) L. Baggetto, V. Sarou-Kanian, P. Florian,
A. N. Gleizes, D. Massiotbc, C. Vahlas, Phys. Chem. Chem. Phys.
2017, 19, 8101-8110, e) V. Sarou-Kanian, A. N. Gleizes, P. Florian, D.
Samelor, D. Massiot, C. Vahlas, J. Phys. Chem. C 2013, 117, 21965-
21971.
[6]
[7]
a) S. M. George, Chem. Rev. 2010, 110, 111-131; b) J. L. Lu, B. S. Fu,
M. C. Kung, G. M. Xiao, J. W. Elam, H. H. Kung, P. C. Stair, Science
2012, 335, 1205-1208.
[18] a) J. Z. Hu, S. C. Xu, J. H. Kwak, M. Y. Hu, C. Wan, Z. C. Zhao, J.
Szanyi, X. H. Bao, X. W. Han, Y. Wang, C. H. F. Peden, J. Catal. 2016,
336, 85-93; b) D. Massiot, F. Fayon, M. Capron, I. King, S. L. Calvé, B.
Alonso, J. O. Durand, B. Bujoli, Z. H. Gan, G. Hoatson, Magn. Reson.
H. F. Peden, J. Z. Hu, J. Phys. Chem. C 2015, 119, 1410-1417.
[8]
[9]
M. S. Jin, H. Y. Liu, H. Zhang, Z. X. Xie, J. Y. Liu, Y. N. Xia, Nano Res.
2011, 4, 83–91.
a) R. L. Puurunen, J. Appl. Phys. 2005, 97, 121301-121352; b) A. W.
Ott, J. W. Klaus, J. M. Johnson, S. M. George, Thin Solid Films 1997,
292, 135-144; c) J. W. Elam, M. D. Groner, S. M. George, Rev. Sci.
Instrum. 2002, 73, 2981-2987; d) M. D. Groner, F. H. Fabreguette, J. W.
Elam, S. M. George, Chem. Mater. 2004, 16, 639-645.
[10] a) J. A. McCormick, K. P. Rice, D. F. Paul, A. W. Weimer, S. M. George,
Chem. Vap. Dep. 2007, 13, 491-498; b) J. D. Ferguson, A. W. Weimer,
S. M. George, Thin Solid Films 2000, 371, 95-104; c) J. L. Lu, B. Liu, J.
P. Greeley, Z. X. Feng, J. A. Libera, Y. Lei, M. J. Bedzyk, P. C. Stair, J.
W. Elam, Chem. Mater. 2012, 24, 2047-2055.
[11] a) J. F. Moulder, W. F. Stickle, P. E. Sobol, K. D. Bomben, Handbook of
X-Ray Photoelectron Spectroscopy, Physical Electronics, Inc., Eden
Prairie, MN, 1995, p. 119; b) D. N. Gao, C. X. Zhang, S. Wang, Z. S.
Yuan, S. D. Wang, Catal. Commun. 2008, 9, 2583–2587.
[12] a) E. Ozensoy, D. C. Meier, D. W. Goodman, J. Phys. Chem. B 2002,
106, 9367−9371; b) L. B. Ding, H. Yi, W. H. Zhang, R. You, T. Cao, J. L.
This article is protected by copyright. All rights reserved.