3906 J. Phys. Chem. B, Vol. 109, No. 9, 2005
Shaporenko et al.
(22) Dishner, M. H.; Hemminger, J. C.; Feher, F. J. Langmuir 1997,
13, 4788.
(51) Hsieh, T. C.; Shapiro, A. P.; Chiang, T.-C. Phys. ReV. B 1985, 31,
2541.
(23) Bandyopadhyay, K.; Vijayamohanan, K. Langmuir 1998, 14, 625.
(24) Huang, F. K.; Horton, R. C., Jr.; Myles, D. C.; Myles, D. C.; Garrell,
R. L. Langmuir 1998, 14, 4802.
(25) Bandyopadhyay, K.; Vijayamohanan, K.; Venkataramanan, M.;
Pradeep, T. Langmuir 1999, 15, 5314.
(26) Nakano, K.; Sato, T.; Tazaki, M.; Takagi, M. Langmuir 2000, 16,
2225.
(27) Yee, C. K.; Ulman, A.; Ruiz, J. D.; Parikh, A.; White, H.;
Rafailovich, M. Langmuir 2003, 19, 9450.
(28) Han, S. W.; Lee, S. J.; Kim, K. Langmuir 2001, 17, 6981.
(29) Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Jackiw, J. J.; Dunbar, T.; Reinerth,
W. A.; Dirk, S. M.; Tour, J. M.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem.
B 2004, 108, 9834.
(52) Shaporenko, A.; Adlkofer, K.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A.;
Grunze, M.; Tanaka, M.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 17964.
(53) Lamont, C. L. A.; Wilkes, J. Langmuir 1999, 15, 2037.
(54) Debe, M. K. J. Appl. Phys. 1984, 55, 3354.
(55) Allara, D. L.; Nuzzo, R. G. Langmuir 1985, 1, 51.
(56) Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Chem. Phys. 1992, 96, 927.
(57) Sto¨hr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science
25, Springer- Verlag: Berlin, 1992.
(58) Outka, D. A.; Sto¨hr, J.; Rabe, J. P.; Swalen, J. D. J. Chem. Phys.
1988, 88, 4076.
(59) Scho¨ll, A.; Fink, R.; Umbach, E.; Mitchell, G. E.; Urquhart, S. G.;
Ade, H. Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 834.
(60) Bagus, P. S.; Weiss, K.; Schertel, A.; Wo¨ll, Ch.; Braun, W.;
Hellwig, H.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
(61) Weiss, K.; Bagus, P. S.; Wo¨ll, Ch. J. Chem. Phys. 1999, 111, 6834.
(62) Va¨terlein, P.; Fink, R.; Umbach, E.; Wurth, W. J. Phys. Chem.
1998, 108, 3313.
(63) Ha¨hner, G.; Kinzler, M.; Wo¨ll, Ch.; Grunze, M.; Scheller, M.;
Cederbaum, L. S. Phys. ReV. Lett. 1991, 67, 851; Phys. ReV. Lett. 1992,
69, 694 (erratum).
(64) Ha¨hner, G.; Kinzler, M.; Thu¨mmler, C.; Wo¨ll, Ch.; Grunze, M. J.
Vac. Sci. Technol. 1992, 10, 2758.
(65) Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114,
1990.
(66) Dubois, L. H.; Nuzzo, R. G. Ann. Phys. Chem. 1992, 43, 437.
(67) Smoes, S.; Mandy, F.; Vander Auwera-Mahieu, A.; Drowart, J.
Bull. Soc. Chim. Belg. 1972, 81, 45.
(68) Kondoh, H.; Iwasaki, M.; Shimada, T.; Amemiya, K.; Yokoyama,
T.; Ohta, T.; Shimomura, M.; Kono, S. Phys. ReV. Lett. 2003, 90, 066102-
1.
(69) Roper, M. G.; Skegg, M. P.; Fisher, C. J.; Lee, J. J.; Dhanak, V.
R.; Woodruff, D. P.; Jones, R. G. Chem. Phys. Lett. 2004, 389, 87.
(70) Gro¨nbeck, H.; Curioni, A.; Andreoni, W. J. Am. Chem. Soc. 2000,
122, 3839.
(71) Vargas, M. C.; Giannozzi, P.; Selloni, A.; Scoles, G. J. Phys. Chem.
B 2001, 105, 9509.
(72) Hayashi, T.; Morikawa, Y.; Nozoye, H. J. Chem. Phys. 2001, 114,
7615.
(73) Heister, K.; Johansson, L. S. O.; Grunze, M.; Zharnikov, M. Surf.
Sci. 2003, 529, 36.
(74) Sandroff, C. J.; Herschbach, D. R. J. Phys. Chem. 1982, 86, 3277.
(75) Troughton, B.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. Langmuir 1988, 4,
365.
(76) Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1989, 93, 1670.
(77) Lee, S. B.; Kim, K.; Kim, M. S. J. Phys. Chem. 1992, 96, 9940.
(78) Zhang, M.; Anderson, M. R. Langmuir 1994, 10, 2807.
(79) Zhong, C. J.; Porter, M. D.; J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 11616.
(80) Jung, Ch.; Dannenberger, O.; Xu, Y.; Buck, M.; Grunze, M.
Langmuir 1998, 14, 1103.
(30) Sato, Y.; Mizutani, F. Phys. Chem. Chem. Phys. 2004, 6, 1328.
(31) Hu, X.; Tian, Z.; Lu, X.; Chen, Y. Synth. Commun. 1997, 27, 553.
(32) Ruan, M.-D.; Zhao, H.-R.; Fan W.-Q.; Zhou X.-J.; J. Organomet.
Chem. 1995, 485, 19.
(33) Ko¨hn, F. Diploma Thesis, Universita¨t Heidelberg, Heidelberg,
Germany, 1998.
(34) Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J.
Phys. Chem. B 2001, 105, 4058.
(35) Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nuc. Instrum.
Methods Phys. Res. B 1997, 131, 245.
(36) Ja¨ger, B.; Schu¨rmann, H.; Mu¨ller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann,
M.; Grunze, M.; Wo¨ll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
(37) Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman,
A. Langmuir 2001, 17, 8.
(38) Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. B 2002, 20, 1793.
(39) Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers
- Calibration of the energy scales, ISO 15472, 2001.
(40) Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D.
Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Chastian, J., Ed.; Perkin-
Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1992.
(41) Zharnikov, M.; Frey, S.; Heister, K.; Grunze, M. Langmuir 2000,
16, 2697.
(42) Batson, P. E. Phys. ReV. B 1993, 48, 2608.
(43) Porter, M. D.; Bright, T. B.; Allara, D. L.; Chidsey, C. E. D. J.
Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
(44) Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Nuzzo, R. G.; Whitesides, G. M. J.
Phys. Chem. 1995, 99, 7663.
(45) Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989,
5, 723.
(46) Beamson, G.; Briggs, D. High-Resolution XPS of Organic Polymers,
John Willy & Sons: Chichester, 1995.
(47) Nuzzo, R. G.; Zegarski, B. R.; Dubois, L. H. J. Am. Chem. Soc.
1997, 109, 7733.
(48) Bensebaa, F.; Zhou, Yu.; Deslandes, Y.; Kruus, E.; Ellis, T. H.
Surf. Sci. 1998, 405, L472.
(49) Culbertson, R. J.; Feldman, L. C.; Silverman, P. J.; Boehm, H. Phys.
ReV. Lett. 1981, 47, 675.
(50) Citrin, P. H.; Wertheim, G. K.; Baer, Y. Phys. ReV. B. 1983, 27,
3160.