1632
Y. Didane et al. / Tetrahedron 67 (2011) 1628e1632
11. Didane, Y.; Diallo, A. K.; Fiorido, T.; Suzuki, A.; Yoshimoto, N.; Bernardini, S.;
Ackermann, J.; Fages, F.; Brisset, H.; Bendahan, M.; Aguir, K.; Videlot-Acker-
mann, C. J. Optoelectron. Adv. Mater. 2010, 12, 1546e1551.
(VG). Positive or negative voltages can be ranged from 0 to j100j V.
All measurements were performed in air.
12. Fiorido, T.; Bendahan, M.; Aguir, K.; Bernardini, S.; Martini, C.; Brisset, H.; Fages, F.;
Videlot-Ackermann, C.; Ackermann, J. Sens. Actuators B: Chem. 2010, 151, 77e82.
13. Didane, Y.; Mehl, G. H.; Kumagai, A.; Yoshimoto, N.; Videlot-Ackermann, C.;
Brisset, H. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 17681e17683.
14. Rieger, R.; Enkelmann, V.; Mullen, K. Materials 2010, 3, 1904e1912.
15. Li, K.-C.; Hsu, Y.-C.; Lin, J.-T.; Yang, C.-C.; Wei, K.-H.; Lin, H.-C. J. Polym. Sci., Part
A: Polym. Chem. 2009, 47, 2073e2092.
Acknowledgements
€
The authors acknowledge S. Nitsche and D. Chaudanson from
CINaM for SEM pictures. Pr F. Fages is gratefully acknowledged for
his fruitful discussions.
16. Yen, W.-C.; Pal, B.; Yang, J.-S.; Hung, Y.-C.; Lin, S.-T.; Chao, C.-Y.; Su, W.-F.
J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem. 2009, 47, 5044e5056.
17. Bard, A. J.; Faulkner, L. R. Electrochemical Methods, 2nd ed.; Wiley: New York, NY,
2001.
18. Yoon, M.-H.; DiBenedetto, S. A.; Facchetti, A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2005,
127, 1348e1349.
References and notes
ꢀ
19. Facchetti, A.; Mushrush, M.; Katz, H. E.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2003, 15, 33e38.
20. Wynberg, H.; Sinnige, H. J. M. Recl. Trav. Chim. Pays-Bas 1969, 88,
1244e1245.
1. Murphy, A. R.; Frechet, J. M. J. Chem. Rev. 2007, 107, 1066e1096.
2. Facchetti, A. Mater. Today 2007, 10, 28e37.
3. Mishra, A.; Ma, C.-Q.; Bauerle, P. Chem. Rev. 2009, 109, 1141e1276.
€
21. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.;
Cheeseman, J. R.; Montgomery, J. A., Jr.; Vreven, T.; Kudin, K. N.; Burant, J. C.;
Millam, J. M.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Barone, V.; Mennucci, B.; Cossi, M.;
Scalmani, G.; Rega, N.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Hada, M.; Ehara, M.;
Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.;
Kitao, O.; Nakai, H.; Klene, M.; Li, X.; Knox, J. E.; Hratchian, H. P.; Cross, J. B.;
Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A.
J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Ayala, P. Y.; Morokuma, K.; Voth,
G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Zakrzewski, V. G.; Dapprich, S.; Daniels,
A. D.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.;
Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cui, Q.; Baboul, A. G.; Clifford, S.; Cioslowski, J.;
Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Martin, R. L.;
Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Challa-
combe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B.; Chen, W.; Wong, M. W.; Gonzalez, C.;
Pople, J. A; Gaussian 03, Revision B.04. Gaussian: Wallingford, CT, 2004.
4. Videlot-Ackermann, C.; Ackermann, J.; Brisset, H.; Kawamura, K.; Yoshimoto,
N.; Raynal, P.; El Kassmi, A.; Fages, F. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 16346e16347.
5. Videlot-Ackermann, C.; Ackermann, J.; Kawamura, K.; Yoshimoto, N.; Brisset,
H.; Raynal, P.; El Kassmi, A.; Fages, F. Org. Electron. 2006, 7, 465e473.
6. Mauldin, C. E.; Puntambekar, K.; Murphy, A. R.; Liao, F.; Subramanian, V.;
ꢀ
Frechet, J. M. J.; DeLongchamp, D. M.; Fischer, D. A.; Toney, M. F. Chem. Mater
2009, 21, 1927e1938.
7. Liu, P.; Wu, Y.; Pan, H.; Li, Y.; Gardner, S.; Ong, B. S.; Zhu, S. Chem. Mater. 2009,
21, 2727e2732.
ꢀ
8. Videlot-Ackermann, C.; Brisset, H.; Zhang, J.; Ackermann, J.; Nenon, S.; Fages, F.;
Marsal, P.; Tanisawa, T.; Yoshimoto, N. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 1567e1574.
9. Didane, Y.; Marsal, P.; Fages, F.; Kumagai, A.; Yoshimoto, N.; Brisset, H.; Videlot-
Ackermann, C. Thin Solid Films 2010, 519, 578e586.
10. Didane, Y.; Martini, C.; Barret, M.; Sanaur, S.; Collot, P.; Ackermann, J.; Fages, F.;
Brisset, H.; Videlot-Ackermann, C. Thin Solid Films 2010, 518, 5311e5320.