Journal of the American Chemical Society
COMMUNICATION
’ AUTHOR INFORMATION
(10) Ichihara, M.; Suzuki, A.; Hatsusaka, K.; Ohta, K. Liq. Cryst.
2007, 34, 555.
Corresponding Author
seki@chem.eng.osaka-u.ac.jp; yo-shimizu@aist.go.jp; imahori@
scl.kyoto-u.ac.jp
(11) (a) Iino, H.; Takayashiki, J.; Hanna, J.; Bushby, R. J. Jpn. J. Appl.
Phys. 2005, 44, L1310. (b) Iino, H.; Hanna, J.; Bushby, R. J.; Movaghar,
B.; Whitaker, B. J.; Cook, M. J. Appl. Phys. Lett. 2005, 7, 132102.
(c) Miyake, Y.; Shiraiwa, Y.; Okada, K.; Monobe, H.; Hori, T.; Yamasaki,
N.; Yoshida, H.; Cook, M. J.; Fujii, A.; Ozaki, M.; Shimizu, Y. Appl. Phys.
Express 2011, 4, 021604.
(12) On the basis of the Colr2 structure for ZnPcÀC60, the ZnPc
plane is tilted by 7.4ꢀ against the axis of the ZnPc column. Given that
the C60 helical pitch is 16 times the layer spacing, the separation distance
between the C60 (0.7À0.9 nm) is estimated to be smaller than the
shortest one between the C60 (∼1.0 nm). Such enhanced packing of the
C60 may be achieved by the disordered wedge-shaped open stacked
ZnPc in the ZnPc column.
’ ACKNOWLEDGMENT
This work was supported by Grant-in-Aid (No. 21350100 to
H.I.) and WPI Initiative, MEXT, Japan. H.H. is grateful for a JSPS
fellowship for young scientists.
’ REFERENCES
(13) (a) Barberꢀa, J.; Cavero, E.; Lehmann, M.; Serrano, J.; Sierra, T.;
Vꢀazquez, J. T. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 4527. (b) Pisula, W.;
Tomovic, Z.; Simpson, C.; Kastler, M.; Pakula, T.; M€ullen, K. Chem.
Mater. 2005, 17, 4296. (c) Lee, S.; Lin, H.; Lin, Y.; Chen, H.; Liao, C.;
Lin, T.; Chu, Y.; Hsu, H.; Chen, C.; Lee, J.; Hung, W.; Liu, Q.; Wu, C.
Chem.—Eur. J. 2011, 17, 792.
(14) (a) Seki, S.; Yoshida, Y.; Tagawa, S.; Asai, K.; Ishigure, K.;
Furukawa, K.; Fujiki, M.; Matsumoto, N. Philos. Mag. B 1999, 79, 1631.
(b) Kunimi, Y.; Seki, S.; Tagawa, S. Solid State Commun. 2000, 114, 469.
(15) Saeki, A.; Seki, S.; Koizumi, Y.; Sunagawa, T.; Ushida, K.;
Tagawa, S. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 10015.
(16) (a) Saeki, A.; Seki, S.; Sunagawa, T.; Ushida, K.; Tagawa, S.
Philos. Mag. 2006, 86, 1261. (b) Saeki, A.; Seki, S.; Tagawa, S. J. Appl.
Phys. 2006, 100, 023703.
(17) (a) Goldmann, D.; Janietz, D.; Schmidt, C.; Wendorff, J. H.
Angew. Chem., Int. Ed. 2000, 39, 1851. (b) Reczek, J. J.; Villazor, K. R.;
Lynch, V.; Swager, T. M.; Iverson, B. L. J. Am. Chem. Soc. 2006,
128, 7995.
(1) (a) Shimizu, Y.; Oikawa, K.; Nakayama, K.; Guillon, D. J. Mater.
Chem. 2007, 17, 4223. (b) Rosen, B. M.; Wilson, C. J.; Wilson, D. A.;
Peterca, M.; Imam, M. R.; Percec, V. Chem. Rev. 2009, 109, 6275.
(2) (a) Laschat, S.; Baro, A.; Steinke, N.; Giesselmann, F.; H€agele,
C.; Scalia, G.; Judele, R.; Kapatsina, E.; Sauer, S.; Schreivogel, A.; Tosoni,
M. Angew. Chem., Int. Ed. 2007, 46, 4832. (b) Kato, T.; Yasuda, T.;
Kamikawa, Y.; Yoshio, M. Chem. Commun. 2009, 729.
(3) (a) Percec, V.; Gloddle, M.; Bera, T. K.; Miura, Y.; Shiyanovskaya, I.;
Singer, K. D.; Balagurusamy, V. S. K.; Heiney, P. A.; Schnell, I.; Rapp, A.;
Spiess, H. -W.; Hudson, S. D.; Duan, H. Nature 2002, 419, 384. (b) Samori,
P.; Yin, X.; Tchebotareva, N.; Wang, Z.; Pakula, T.; J€ackel, F.; Watson,
M. D.; Venturini, A.; M€ullen, K.; Rabe, J. P. J. Am. Chem. Soc. 2004,
126, 3567. (c) Pisula, W.; Kastler, M.; Wasserfallen, D.; Robertson, J. W. F.;
Nolde, F.; Kohl, C.; M€ullen, K. Angew. Chem., Int. Ed. 2006, 45, 819.
(d) Tasios, N.; Grigoriadis, C.; Hansen, M. R.; Wonneberger, H.; Li, C.;
Spiess, H. W.; M€ullen, K.; Floudas, G. J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 7478.
(4) (a) Shi, Q.; Hou, Y.; Jin, H.; Li, Y. J. Appl. Phys. 2007,
102, 073108. (b) Ballantyne, A. M.; Chen, L.; Dane, J.; Hammant, T.;
Braun, F. M.; Heeney, M.; Duffy, W.; McCulloch, I.; Bradley, D. D. C.;
Nelson, J. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 2373. (c) Li, W. -S.; Yamamoto,
Y.; Fukushima, T.; Saeki, A.; Seki, S.; Tagawa, S.; Masunaga, H.; Sasaki,
S.; Takata, M.; Aida, T. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 8886. (d) Bullock,
J. E.; Carmieli, R.; Mickley, S. M.; Vura-Weis, J.; Wasielewski, M. R.
J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 11919. (e) Charvet, R.; Acharya, S.; Hill,
J. P.; Akada, M.; Liao, M.; Seki, S.; Honsho, Y.; Saeki, A.; Ariga, K. J. Am.
Chem. Soc. 2009, 131, 18030. (f) Hizume, Y.; Tashiro, K.; Charvet, R.;
Yamamoto, Y.; Saeki, A.; Seki, S.; Aida, T. J. Am. Chem. Soc. 2010,
132, 6628.
(5) (a) Imahori, H.; et al. Chem.—Eur. J. 2007, 13, 10182. (b) Kira,
A.; Umeyama, T.; Matano, Y.; Yoshida, K.; Isoda, S.; Park, J. K.; Kim, D.;
Imahori, H. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 3198. (c) Umeyama, T.;
Tezuka, N.; Kawashima, F.; Seki, S.; Matano, Y.; Nakao, Y.; Shishido, T.;
Nishi, M.; Hirao, K.; Lehtivuori, H.; Tkachencko, N. V.; Lemmetyinen,
H.; Imahori, H. Angew. Chem., Int. Ed. 2011, 50, 4615.
(6) Hanack, M.; Lang, M. Adv. Mater. 1994, 6, 819.
(7) (a) Nierengarten, J. -F.; Solladie, N.; Deschenaux, R. In Full-
erenes; Langa, F., Nierengarten, J.-F., Eds.; RSC Publishing: Cambridge,
2007; Chapter 5. (b) Campidelli, S.; Bourgun, P.; Guintchin, B.; Furrer,
J.; Stoeckli-Evans, H.; Saez, I. M.; Goodby, J. W.; Deschenaux, R. J. Am.
Chem. Soc. 2010, 132, 3574.
(8) (a) Lenoble, J.; Campidelli, S.; Maringa, N.; Donnio, B.; Guillon,
D.; Yevlampieva, N.; Deschenaux, R. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 9941.
(b) Lenoble, J.; Maringa, N.; Campidelli, S.; Donnio, B.; Guillon, D.;
Deschenaux, R. Org. Lett. 2006, 8, 1851. (c) Maringa, N.; Lenoble, J.;
Donnio, B.; Guillon, D.; Deschenaux, R. J. Mater. Chem. 2008, 18, 1524.
(d) Hoang, T. N. Y.; Pociecha, D.; Salamonczyk, M.; Gorecka, E.;
Deschenaux, R. Soft Matter 2011, 7, 4948.
(9) (a) Bottari, G.; de la Torres, G.; Guldi, D. M.; Torres, T. Chem.
ꢀ
ꢀ
Rev. 2010, 110, 6768. (b) de la Escosura, A.; Matinez-Diaz, M. V.;
Barberꢀa, J.; Torres, T. J. Org. Chem. 2008, 73, 1475. (c) Geerts, Y. H.;
Debever, O.; Amato, C.; Sergeyev, S. Beilstein J. Org. Chem. 2009, 5,
ꢀ
ꢀ
DOI: 10.3762/bjoc.5.49. (d) Ince, M.; Martinez-Diaz, M. V.; Barberꢀa, J.;
Torres, T. J. Mater. Chem. 2011, 21, 1531.
10739
dx.doi.org/10.1021/ja203822q |J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 10736–10739