2
0 C. L. Hill and C. M. Prosser-McCartha, Coord. Chem. Rev., 1995, 143,
Tangestaninejad, I. Mohammadpoor- Baltork and N. Rasouli, Catal.
Commun., 2008, 9, 2411; N. M. Okun, T. M. Anderson and C. L. Hill,
J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 3194; B. Botar, Y. V. Geletii, P. K o¨ gerler,
D. G. Musaev, K. Morokuma, I. A. Weinstock and C. L. Hill, J. Am.
Chem. Soc., 2006, 128, 11268; Y. Nishiyama, Y. Nakagawa and N.
Mizuno, Angew. Chem., Int. Ed., 2001, 40, 3639.
4
1
07; T. Okuhara, N. Mizuno and M. Misono, Adv. Catal., 1996, 41,
13; C. L. Hill, J. Mol. Catal. A: Chem., 2007, 262, 2.
2
2
1 N. Nojiri and M. Misono, Appl. Catal., A, 1993, 93, 103; M. Misono,
Chem. Commun., 2001, 1141.
2 U. Kortz, S. S. Hamzeh and N. A. Nasser, Chem.–Eur. J., 2003, 9, 2945;
J. M. Clemente-Juan, E. Coronado, A. Gaita-Arino, C. Gimenez-Saiz,
H.-U. Gudel, A. Sieber, R. Bircher and H. Mutka, Inorg. Chem., 2005,
29 N. M. Okun, T. M. Anderson, K. I. Hardcastle and C. L. Hill, Inorg.
Chem., 2003, 42, 6610; Y. V. Geletii, B. Botar, P. K o¨ gerler, D. A.
Hillesheim, D. G. Musaev and C. L. Hill, Angew. Chem., Int. Ed.,
2008, 47, 3896; J. W. Han and C. L. Hill, J. Am. Chem. Soc., 2007, 129,
15094; Z. Luo, P. K o¨ gerler, R. Cao and C. L. Hill, Inorg. Chem., 2009,
48, 7812.
30 S. Uchida, S. Hikichi, T. Akatsuka, T. Tanaka, R. Kawamoto, A.
Lesbani, Y. Nakagawa, K. Uehara and N. Mizuno, Chem. Mater.,
2007, 19, 4694.
31 V. M. Russel, M. L. Scudder and I. G. Dance, J. Chem. Soc., Dalton
Trans., 2001, 789.
32 Oxford Diffraction, CrysAlis, A Software Package for Data Collection
and 681 Reduction, Oxford Diffraction Ltd., 20 Nuffield Way, Abing-
don, Oxfordshire, 682 OX14 1RL, UK, 2002-2010.
4
4, 3389; C. Zhang, R. C. Howell, Q.-H. Luo, H. L. Fieselmann, L. J.
Todaro and L. C. Francesconi, Inorg. Chem., 2005, 44, 3569; S. C.
Xiang, X. T. Wu, J. J. Zhang, R. B. Fu, S. M. Hu and X. D. Zhang,
J. Am. Chem. Soc., 2005, 127, 16352; S. Nellutla, J. van Tol, N. S.
Dalal, L.-H. Bi, U. Kortz, B. Keita, L. Nadjo, G. A. Khitrov and A. G.
Marshall, Inorg. Chem., 2005, 44, 9795; H. Y An, E. B. Wang, D. R.
Xiao, Y. G. Li, Z. M. Su and L. Xu, Angew. Chem., Int. Ed., 2006,
4
5, 904; D. L. Long, P. K o¨ gerler, A. D. C. Parenty, J. Fielden and L.
Cronin, Angew. Chem., Int. Ed., 2006, 45, 4798.
2
3 D. Hagrman, P. J. Hagrman and J. Zubieta, Angew. Chem., Int. Ed.,
1
2
999, 38, 3165; I. Bar-Nahum and R. Neumann, Chem. Commun.,
003, 2690; Y. Kikukawa, S. Yamaguchi, K. Tsuchida, Y. Nakagawa,
K. Uehara, K. Yamaguchi and N. Mizuno, J. Am. Chem. Soc., 2008,
33 R. C. Clark and J. S. Reid, Acta Crystallogr., Sect. A: Found.
1
30, 5472.
Crystallogr., 1995, 51, 887–897.
2
2
4 J. Lu, E. H. Shen, M. Yuan, Y. G. Li, E. B. Wang, C. W. Hu, L. Xu
and J. Peng, Inorg. Chem., 2003, 42, 6956; H. Zhang, L. Y. Duan, Y.
Lan, E. B. Wang and C. W. Hu, Inorg. Chem., 2003, 42, 8053; Y. Ishii,
Y. Takenaka and K. Konishi, Angew. Chem., Int. Ed., 2004, 43, 2702.
5 P. J. Hagrman, D. Hagrman and J. Zubieta, Angew. Chem., Int. Ed.,
34 G. M. Sheldrick, Acta Crystallogr., Sect. A: Found. Crystallogr., 2008,
64, 112–122.
35 S. Samanta, N. K. Mal and A. Bhaumik, J. Mol. Catal. A: Chem., 2005,
236, 7.
36 P. Porta, G. Minelli, I. Pettiti, L. I. Botto and H. J. Thomas, J. Mater.
Chem., 1997, 7, 311.
1
999, 38, 2639; C. M. Liu, D. Q. Zhang, M. Xiong and D. B. Zhu,
Chem. Commun., 2002, 1416; A. Dolbecq, P. Mialane, L. Lisnard, J.
Marrot and F. Scheresse, Chem.–Eur. J., 2003, 9, 2914; B. Z. Lin, Y. M.
Chen and P. D. Liu, Dalton Trans., 2003, 2474; C. Lei, J. G. Mao, Y. Q.
Sun and J. L. Song, Inorg. Chem., 2004, 43, 1964.
6 M. Sadakane, M. H. Dickman and M. T. Pope, Angew. Chem., Int.
Ed., 2000, 39, 2914; E. Burkholder, V. Golub, C. J. O’Connor and J.
Zubieta, Chem. Commun., 2003, 2128.
37 P. Stevene, J. M. Waldeck, J. Strohl and R. Nakon, J. Am. Chem. Soc.,
1978, 100, 3632; X. Ribas, J. C. Dias, J. Morgado, K. Wurst, E. Molins,
E. Ruiz, M. Almeida, J. Veciana and C. Roviva, Chem.–Eur. J., 2004,
10, 1691; F. C. Anson, T. J. Collins, T. G. Richmond, B. D. Santarsiero,
J. E. Toth and B. G. R. T. Treco, J. Am. Chem. Soc., 1987, 109, 2974;
C. Krebs, T. Glaser, E. Bill, T. Weyherm u¨ ller, W. Meyer-Klaucke and
K. Wieghardt, Angew. Chem., Int. Ed., 1999, 38, 359; W. E. Keyes,
J. B. R. Dunn and T. M. Loehr, J. Am. Chem. Soc., 1977, 99, 4527;
S. Itoh, M. Taki, H. Nakao, P. L. Holland, W. B. Tolman, L. Que jr.
and S. Fukuzumi, Angew. Chem., Int. Ed., 2000, 39, 398; P. Gamez,
I. A. Koval and J. Reedijk, J. Chem. Soc. Dalton Trans, 2004, 4079; W.
Levason and M. D. Spicer, Coord. Chem. Rev., 1987, 76, 45; F. P. Bossu,
K. L. Chellappa and D. W. Margerum, J. Am. Chem. Soc., 1977, 99,
2195.
2
2
7 E. F. Wilson, H. Abbas, B. J. Duncombe, C. Streb, D.-L. Long and L.
Cronin, J. Am. Chem. Soc., 2008, 130, 13876; J. Macht, M. J. Janik, M.
Neurock and E. Iglesia, J. Am. Chem. Soc., 2008, 130, 10369; M. A.
AlDamen, J. M. Clemente-Juan, E. Coronado, C. Martı-Gastaldo and
A. Gaita-Arino, J. Am. Chem. Soc., 2008, 130, 8874; S.-T. Zheng, J.
Zhang and G.-Y. Yang, Angew. Chem., Int. Ed., 2008, 47, 3909; D. L.
Long, Y. F. Song, E. F. Wilson, P. Kogerler, S. X. Guo, A. M. Bond,
J. S. J. Hargreaves and L. Cronin, Angew. Chem., Int. Ed., 2008, 47,
38 R. Greef, L. Peat, M. Peter, D. Pletcher and J. Robinson, Instrumental
Methods in Electrochemistry, John Wiley & Sons, New York, 1985, 188.
39 R. Drissi-Daoudi, A. Irhzo and A. Drachen, J. Appl. Electrochem.,
2003, 33, 339.
4
384.
2
8 C.-Y. Sun, S.-X. Liu, D.-D. Liang, K.-Z. Shao, Y.-H Ren and Z.-M Su,
J. Am. Chem. Soc., 2009, 131, 1883; V. Mirkhani, M. Moghadam, S.
This journal is © The Royal Society of Chemistry 2010
Dalton Trans., 2010, 39, 11551–11559 | 11559