Paper
NJC
9 (a) T. M. Cokley, P. J. Harvey, R. L. Marshall, A. McCluskey 17 (a) Y. Xu and C. H. Langford, Langmuir, 2001, 17, 897;
and D. J. Young, J. Org. Chem., 1997, 62, 1961; (b) J. Mulzer,
in Organic Synthesis Highlights, ed. J. Mulzer, H. J.
Altenbach, M. Braun, K. Krohn and H. U. Reissig, Wiley-
VCH, Weinheim, 1991, p. 157; (c) P. A. Grieco, Aldrichimica
(b) J. Schwitzgebel, J. G. Ekerdt, H. Gerischer and
A. Heller, J. Phys. Chem., 1995, 99, 5633; (c) J. L. Yang,
S. J. An, W. I. Park, G. C. Yi and W. Choi, Adv. Mater., 2004,
16, 1661.
Acta, 1991, 24, 59; (d) D. Marton, D. Stivanello and 18 (a) L. P. Sung, S. Scierka, M. B. Anarak and D. L. Ho, Mater.
G. Tagliavini, J. Org. Chem., 1996, 61, 2731; (e) L. M. Zhao,
H. S. Jin, L. J. Wan and L. M. Zhang, J. Org. Chem., 2011,
76, 1831; ( f ) J. A. Marshall, Chem. Rev., 2000, 100, 3163;
(g) B. S. Guo, W. Doubleday and T. Cohen, J. Am. Chem. Soc.,
1987, 109, 4710.
Res. Soc. Symp. Proc., 2003, 740, I15.1; (b) M. Thirumavalavan,
F. M. Yang and J. F. Lee, Environ. Sci. Pollut. Res., 2013,
20, 5654; (c) A. Eyasu, O. P. Yadav and R. K. Bachheti, Int.
J. ChemTech Res., 2013, 5, 1452; (d) K. B. Sapnara,
L. A. Ghuleb, S. V. Bhoraskara, K. M. Garadkarb, S. D.
Dholea and V. N. Bhoraskar, Radiat. Eff. Defects Solids,
2012, 167, 238.
10 J. H. Dam, P. Fristrup and R. Madsen, J. Org. Chem., 2008,
73, 3228.
´
11 (a) O. Piechaczyk, T. Cantat, N. Mezailles and P. Le Floch, 19 The XRD analysis of the adsorbed red material (ZnO-1 with
J. Org. Chem., 2007, 72, 4228; (b) N. Solin, J. Jellgren and
Congo red) does not show major changes in the XRD
pattern. A slight shift in the peak position and decrease in
intensity of some of the peaks were observed due to surface
binding of Congo Red in the ZnO-1 material. Please see
Fig. S1 in the ESI,† for the XRD pattern.
´
K. J. Szabo, J. Am. Chem. Soc., 2004, 126, 7026;
(c) S. Yamazaki and S. Yamabe, J. Org. Chem., 2002, 67, 9346.
12 (a) X. Pan, M. Yang and Y. J. Xu, Phys. Chem. Chem. Phys.,
2014, 16, 5589; (b) C. W. Chen, K. H. Chena, C. H. Shen,
A. Ganguly, L. Chena, J. J. Wu, H. Wen and W. F. Pong, Appl. 20 Please see Fig. S2 in the ESI,† for the XRD pattern.
Phys. Lett., 2006, 88, 241905; (c) V. Srikant and D. R. Clarke, 21 (a) S. Khezrianjoo and H. D. Revanasiddappa, J. Catal., 2013,
J. Appl. Phys., 1998, 83, 5447; (d) S. S. Alias, A. B. Ismail and
A. A. Mohamad, J. Alloys Compd., 2010, 499, 231.
13 (a) J. Majeed, J. Ramkumar, S. Chandramouleeswaran and
1.37, 582058; (b) S. Y. Pung, W. P. Lee and A. Aziz, Int.
J. Inorg. Chem., 2012, 19, 608183; (c) T. Wang, R. Lv,
P. Zhang, C. Lia and J. Gong, Nanoscale, 2015, 7, 77.
A. K. Tyagi, Sep. Sci. Technol., 2015, 50, 404; (b) B. K. Meyer, 22 (a) C. H. Weng and Y. F. Pan, Colloids Surf., 2006, 274, 154;
H. Alves, D. M. Hofmann, W. Kriegseis, D. Forster,
F. Bertram, J. Christen, A. Hoffmann, M. Straburg,
M. Dworzak, U. Haboeck and A. V. Rodina, Phys. Status
Solidi, 2004, 241(2), 231; (c) M. Burghard, H. Klauk and
(b) B. Saha, S. Das, J. Saikia and G. Das, J. Phys. Chem. C,
2011, 115, 8024; (c) C. Mondal, J. Pal, K. K. Pal, A. K. Sasmal,
M. Ganguly, A. Roy, P. K. Manna and T. Pal, Cryst. Growth
Des., 2014, 14, 5034.
K. Kern, Adv. Mater., 2009, 21, 2586; (d) X. Qian, Z. Ning, 23 M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria,
Y. Li, H. Liu, C. Ouyang, Q. Chenb and Y. Li, Dalton Trans.,
2012, 41, 730.
M. A. Robb, J. R. Cheeseman, J. A. Montgomery Jr, T. Vreven,
K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M. Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi,
V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani, N. Rega,
G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota,
R. Fukuda, J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda,
O. Kitao, H. Nakai, M. Klene, X. Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian,
J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R. Gomperts,
R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli,
J. W. Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth,
P. J. Salvador, J. Dannenberg, V. G. Zakrzewski, S. Dapprich,
A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick,
A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz,
Q. Cui, A. G. Baboul, S. Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov,
G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi, R. L. Martin,
D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara,
M. Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W.
Wong, C. Gonzalez and J. A. Pople, Gaussian 03, revision D.02,
Gaussian, Inc., Pittsburgh, PA, 2009.
14 (a) G. Y. Rudko, S. A. Kovalenko, E. G. Gule, V. V. Bobyk,
V. M. Solomakha and A. B. Bogoslovskaya, Semicond. Phys.,
Quantum Electron. Optoelectron., 2015, 18(1), 20; (b) A. Tricoli,
M. Graf and S. E. Pratsinis, Adv. Funct. Mater., 2008, 18, 1969;
(c) M. Righettoni, A. Tricoli and S. E. Pratsinis, Chem. Mater.,
2010, 22, 3152; (d) Y. Wang, X. Cheng, X. Meng, H. Feng,
S. Yang and C. Sun, J. Alloys Compd., 2015, 632, 445;
(e) K. Bourikas, M. Stylidi, D. I. Kondarides and X. E.
Verykios, Langmuir, 2005, 21, 9222.
15 (a) Y. Chen, Y. Zhang, C. Liu, A. Lu and W. Zhang, Int.
J. Photoenergy, 2012, 10, 1155; (b) S. Zhang, X. Liu, M. Wang,
B. Wu, B. Pan, H. Yang and H. Q. Yu, Environ. Sci. Technol.
Lett., 2014, 1, 167.
16 (a) H. S. Jung, Y. J. Hong, Y. Li, J. Cho, Y. J. Kim and G. C. Yi,
ACS Nano, 2008, 2, 637; (b) Z. T. Liu, L. Zhang, Z. Liu, Z. Gao,
W. Dong, H. Xiong, Y. Peng and S. Tang, Ind. Eng. Chem.
Res., 2006, 45, 8932.
24 J. Tomasi and M. Persico, Chem. Rev., 1994, 94, 2027.
New J. Chem.
This journal is © The Royal Society of Chemistry and the Centre National de la Recherche Scientifique 2016