Journal of The Electrochemical Society, 159 (5) H545-H553 (2012)
H553
Beckman Scholar Award. M.E. thanks the UF HHMI Science for Life
program for support of his undergraduate research.
Challacombe, P. M. W. Gill, B. Johnson, W. Chen, M. W. Wong, C. Gonzalez, and
J. A. Pople, Gaussian 03, Revision B.04, 2004
18. B. E. Winger, S. A. Hofstadler, J. E. Bruce, H. R. Udseth, and R. D. Smith, J. Am.
Soc. Mass Spectrom., 4, 566 (1993).
19. M. G. Ikonomou and P. Kebarle, J. Am. Soc. Mass Spectrom., 5, 791 (1994).
20. M. Wigger, J. P. Nawrocki, C. H. Watson, J. R. Eyler, and S. A. Benner, Rapid
Commun. Mass Spectrom., 11, 1749 (1997).
21. S. Wu, K. Zhang, N. K. Kaiser, and J. E. Bruce, J. Am. Soc. Mass Spectrom., 17, 772
(2006).
22. P. Caravatti and M. Allemann, Org. Mass Spectrom., 26, 514 (1991).
23. M. G. Basallote, J. Duran, M. J. Fernandez-Trujillo, and M. A. Manez, J. Chem. Soc.,
Dalton Trans., 3227 (1998).
References
1. A. E. Kaloyeros and E. Eisenbraun, Annu. Rev. Mater. Sci, 30, 363 (2000).
2. E. Kolawa, P. J. Pokela, J. S. Reid, J. S. Chen, and M. A. Nicolet, Appl. Surf. Sci., 53,
373 (1991).
3. O. J. Bchir, K. M. Green, H. M. Ajmera, E. A. Zapp, T. J. Anderson, B. C. Brooks,
L. L. Reitfort, D. H. Powell, K. A. Abboud, and L. McElwee-White, J. Am. Chem.
Soc., 127, 7825 (2005).
24. O. J. Bchir, S. W. Johnston, A. C. Cuadra, T. J. Anderson, C. G. Ortiz, B. C. Brooks,
D. H. Powell, and L. McElwee-White, J. Cryst. Growth, 249, 262 (2003).
25. O. J. Bchir, K. M. Green, M. S. Hlad, T. J. Anderson, B. C. Brooks, C. B. Wilder,
D. H. Powell, and L. McElwee-White, J. Organomet. Chem., 684, 338 (2003).
26. P. R. N. Childs, J. R. Greenwood, and C. A. Long, Review of Scientific Instrument,
71, 2959 (2000).
27. J. H. S. Green, and D. J. Harrison, Spectrochim. Acta, Part A, 32, 1279 (1976).
28. T. G. Burova and A. A. Anashkin, Optics & Spectroscopy, 102, 825 (2007).
29. S. Ishikawa, T. Ebata, and N. Mikami, J. Chem. Phys., 110, 9504 (1999).
30. Y. S. Won, Y. S. Kim, T. J. Anderson, L. L. Reitfort, I. Ghiviriga, and L. McElwee-
White, J. Am. Chem. Soc., 128, 13781 (2006).
4. H. M. Ajmera, A. T. Heitsch, O. J. Bchir, T. J. Anderson, L. L. Reitfort, and
L. McElwee-White, J. Electrochem. Soc., 155, H829 (2008).
5. S.-H. Kim, S. S. Oh, H.-M. Kim, D.-H. Kang, K.-B. Kim, W.-M. Li, S. Haukka, and
M. Tuominen, J. Electrochem. Soc., 151, C272 (2004).
6. A. R. Ivanova, C. J. Galewski, C. A. Sans, T. E. Seidel, S. Grunow, K. Kumar, and
A. E. Kaloyeros, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 564, 321 (1999).
7. C. Galewski and T. Seidel, Eur. Semicond. Des. Prod. Assemb., 21(1), 31 (1999).
8. J. Koller, H. M. Ajmera, K. A. Abboud, T. J. Anderson, and L. McElwee-White,
Inorg. Chem., 47, 4457 (2008).
9. D. Kim, O. H. Kim, T. J. Anderson, J. Koller, L. McElwee-White, L. C. Leu, J. M.
Tsai, and D. P. Norton, J. Vac. Sci. Technol. A, 27, 943 (2009).
10. H. M. Ajmera, T. J. Anderson, J. Koller, L. McElwee-White, and D. P. Norton, Thin
Solid Films, 517, 6038 (2009).
11. S.-H. Chuang, H.-T. Chiu, Y.-H. Chou, and S.-F. Chen, J. Chin. Chem. Soc.-TAIP,
31. H. M. Ajmera, PhD Dissertation, Department of Chemical Engineering, University
of Florida, 2007
32. J. A. Kerr, Chem. Rev., 66, 465 (1966).
33. C. J. Michejda and W. P. Hoss, J. Am. Chem. Soc., 92, 6298 (1970).
34. J. R. Roberts and K. U. Ingold, J. Am. Chem. Soc., 95, 3228 (1973).
35. F. O. Rice and C. J. Grelecki, J. Am. Chem. Soc., 79, 2679 (1957).
36. D. Mackay and A. Waters, J. Chem. Soc. C, 813 (1966).
37. H. Gesser, J. T. Mullhaupt, and J. E. Griffiths, J. Am. Chem. Soc., 79, 4834 (1957).
38. B. G. Gowenlock and K. E. Thomas, J. Chem. Soc. B, 409 (1966).
39. S. Salim, C. K. Lim, and L. F. Jensen, Chem. Mater., 7, 507 (1995).
40. Y. G. Lazarou and P. Papagiannakopoulos, J. Phys. Chem., 97, 9133 (1993).
41. H. Shang, C. Yu, L. Ying, and X. Zhao, Chem. Phys. Lett., 236, 318 (1995).
42. J. Demuynck, D. J. Fox, Y. Yamaguchi, and H. F. Schaefer III, J. Am. Chem. Soc.,
102, 6204 (1980).
53(6), 1391 (2006).
12. S. E. Potts, C. J. Carmalt, C. S. Blackman, T. Leese, and H. O. Davies, Dalton Trans.,
5730 (2008).
13. D. Rische, H. Parala, E. Gemel, M. Winter, and R. A. Fischer, Chem. Mater., 18,
6075 (2006).
14. J. Lee, Y. S. Kim, and T. Anderson, ECS Transactions, 25, 41 (2009).
15. L. McElwee-White, Dalton Trans., 5327 (2006).
16. J. Y. Hwang, C. Park, M. Huang, and T. Anderson, J. Cryst. Growth, 279, 521 (2005).
17. M. J. Frisch, G. W. Trucks, H. B. Schlegel, G. E. Scuseria, M. A. Robb, J. R.
Cheeseman, J. J. A. Montgomery, T. Vreven, K. N. Kudin, J. C. Burant, J. M.
Millam, S. S. Iyengar, J. Tomasi, V. Barone, B. Mennucci, M. Cossi, G. Scalmani,
N. Rega, G. A. Petersson, H. Nakatsuji, M. Hada, M. Ehara, K. Toyota, R. Fukuda,
J. Hasegawa, M. Ishida, T. Nakajima, Y. Honda, O. Kitao, H. Nakai, M. Klene, X.
Li, J. E. Knox, H. P. Hratchian, J. B. Cross, V. Bakken, C. Adamo, J. Jaramillo, R.
Gomperts, R. E. Stratmann, O. Yazyev, A. J. Austin, R. Cammi, C. Pomelli, J. W.
Ochterski, P. Y. Ayala, K. Morokuma, G. A. Voth, P. Salvador, J. J. Dannenberg, V.
G. Zakrzewski, S. Dapprich, A. D. Daniels, M. C. Strain, O. Farkas, D. K. Malick,
A. D. Rabuck, K. Raghavachari, J. B. Foresman, J. V. Ortiz, Q. Cui, A. G. Baboul, S.
Clifford, J. Cioslowski, B. B. Stefanov, G. Liu, A. Liashenko, P. Piskorz, I. Komaromi,
R. L. Martin, D. J. Fox, T. Keith, M. A. Al-Laham, C. Y. Peng, A. Nanayakkara, M.
43. C. Richards, C. Meredith, S.-J. Kim, G. E. Quelch, and H. F. Schaefer, J. Chem.
Phys., 100, 481 (1994).
44. J. R. Durig, M. G. Griffin, and P. Groner, J. Phys. Chem., 81, 554 (1977).
45. G. Socrates, Infrared and Raman Characteristic Group Frequencies: Tables and
Charts, p. 347, John Wiley & Sons, Inc, New York (2004).
46. T. E. Glassman, M. G. Vale, and R. R. Schrock, Organometallics, 10, 4046 (1991).
47. D. F. McMillen and D. M. Golden, Annu. Rev. Phys. Chem., 33, 493 (1982).
48. R. J. Lang, Journal of the Acoustical Society of America, 34, 6 (1962).
49. S. M. Frolov, F. S. Frolov, and B. Basara, J. Russ. Laser Res., 27, 562 (2006).
Downloaded on 2015-03-08 to IP 169.230.243.252 address. Redistribution subject to ECS terms of use (see ecsdl.org/site/terms_use) unless CC License in place (see abstract).