Chemistry of Materials
ARTICLE
(DARPA) and the U.S. Army Aviation and Missile Research,
Development, and Engineering Center (AMRDEC) (Project No.
W31P4Q-08-1-0003).59 L.P., T.E., H.H., S.W., D.H., and E.V.S.
also acknowledge financial support from the U.S. Army Research
Offices by both W911NF0710232 and 50372-CH-MUR.
(30) Gong, Y.; Guo, X.; Wang, S.; Su, H.; Xia, A.; He, Q.; Bai, F.
J. Phys. Chem. A 2007, 111, 5806–5812.
(31) Beaujuge, P. M.; Amb, C. M.; Reynolds, J. R. Acc. Chem. Res.
2010, 43, 1396–1407.
(32) Beaujuge, P. M.; Ellinger, S.; Reynolds, P. D. J. R. Adv. Mater.
2008, 20, 2772–2776.
(33) Pritchett, T. M.; Sun, W. F.; Zhang, B. G.; Ferry, M. J.; Li, Y. J.;
Haley, J. E.; Mackie, D. M.; Shensky, W.; Mott, A. G. Opt. Lett. 2010,
35, 1305–1307.
(34) Lim, J. H.; Przhonska, O. V.; Khodja, S.; Yang, S.; Ross, T. S.;
Hagan, D. J.; Van Stryland, E. W.; Bondar, M. V.; Slominsky, Y. L. Chem.
Phys. 1999, 245, 79–97.
’ REFERENCES
(1) Kono, T.; Kumaki, D.; Nishida, J. I.; Sakanoue, T.; Kakita, M.;
Tada, H.; Tokito, S.; Yamashita, Y. Chem. Mater. 2007, 19, 1218–1220.
(2) Aldakov, D.; Palacios, M. A.; Anzenbacher, P. Chem. Mater. 2005,
17, 5238–5241.
(35) Siebrand, W. J. Chem. Phys. 1966, 44, 4055–4057.
(36) Siebrand, W. J. Chem. Phys. 1967, 46, 440–447.
(37) Wang, J.-L.; Xiao, Q.; Pei, J. Org. Lett. 2010, 12, 4164–4167.
(38) Lopez Arbeloa, I.; Rohatgi-Mukherjee, K. K. Chem. Phys. Lett.
1986, 129, 607–614.
(39) Lebedev, A. Y.; Filatov, M. A.; Cheprakov, A. V.; Vinogradov,
S. A. J. Phys. Chem. A 2008, 112, 7723–7733.
(40) Sheik-Bahae, M.; Said, A. A.; Stryland, E. W. V. Opt. Lett. 1989,
14, 955–957.
(3) Dhanabalan, A.; van Duren, J. K. J.; van Hal, P. A.; van Dongen,
J. L. J.; Janssen, R. A. J. Adv. Funct. Mater. 2001, 11, 255–262.
(4) Nielsen, C. B.; Angerhofer, A.; Abboud, K. A.; Reynolds, J. R.
J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 9734–9746.
(5) Beaujuge, P. M.; Ellinger, S.; Reynolds, J. R. Nat. Mater. 2008,
7, 795–799.
(6) Ellinger, S.; Ziener, U.; Thewalt, U.; Landfester, K.; Moeller, M.
Chem. Mater. 2007, 19, 1070–1075.
(7) Facchetti, A. Mater. Today 2007, 10, 28–37.
(41) Sheik-Bahae, M.; Said, A. A.; Wei, T.-H.; Hagan, D. R.; Stryland,
E. W. V. IEEE J. Quantum Electron. 1990, 26, 760–769.
(42) Xu, C.;Webb, W. W.J. Opt. Soc. Am. B: Opt. Phys. 1996, 13, 481–491.
(43) Pawlicki, M.; Collins, H. A.; Denning, R. G.; Anderson, H. L.
Angew. Chem., Int. Ed. 2009, 48, 3244–3266.
(8) Champion, R. D.; Cheng, K.-F.; Pai, C.-L.; Chen, W.-C.;
Jenekhe, S. A. Macromol. Rapid Commun. 2005, 26, 1835–1840.
(9) Aldred, M.; Carrasco-Orozco, M.; Contoret, A.; Dong, D.;
Farrar, S.; Kelly, S.; Kitney, S.; Mathieson, D.; O’Neill, M.; Tsoi,
W. C.; Vlachos, P. Liq. Cryst. 2006, 33, 459–467.
(44) Albota, M.; Beljonne, D.; Brꢀedas, J.-L.; Ehrlich, J. E.; Fu, J.-Y.;
Heikal, A. A.; Hess, S. E.; Kogej, T.; Levin, M. D.; Marder, S. R.; McCord-
Maughon, D.; Perry, J. W.; R€ockel, H.; Rumi, M.; Subramaniam, G.; Webb,
W. W.; Wu, X.-L.; Xu, C. Science 1998, 281, 1653–1656.
(45) Cronstrand, P.; Luo, Y.; Agren, H. Chem. Phys. Lett. 2002,
352, 262–269.
(46) Monson, P. R.; McClain, W. M. J. Chem. Phys. 1970, 53, 29–37.
(47) Birge, R. R.; Bennett, J. A.; Pierce, B. M.; Thomas, T. M. J. Am.
Chem. Soc. 1978, 100, 1533–1539.
(48) Fu, J.; Padilha, L. A.; Hagan, D. J.; Van Stryland, E. W.;
Przhonska, O. V.; Bondar, M. V.; Slominsky, Y. L.; Kachkovski, A. D.
J. Opt. Soc. Am. B: Opt. Phys. 2007, 24, 56–66.
(49) Rumi, M.; Ehrlich, J. E.; Heikal, A. A.; Perry, J. W.; Barlow, S.; Hu,
Z. Y.; McCord-Maughon, D.; Parker, T. C.; Rockel, H.; Thayumanavan,
S.; Marder, S. R.; Beljonne, D.; Bredas, J. L. J. Am. Chem. Soc. 2000,
122, 9500–9510.
(10) Karikomi, M.; Kitamura, C.; Tanaka, S.; Yamashita, Y. J. Am.
Chem. Soc. 1995, 117, 6791–6792.
(11) Kitamura, C.; Tanaka, S.; Yamashita, Y. Chem. Mater. 1996, 8,
570–578.
(12) Kitamura, C.; Saito, K.; Nakagawa, M.; Ouchi, M.; Yoneda, A.;
Yamashita, Y. Tetrahedron Lett. 2002, 43, 3373–3376.
(13) Van Mullekom, H. A. M.; Vekemans, J. A. J. M.; Havinga, E. E.;
Meijer, E. W. Mater. Sci. Eng. 2001, 32, 1–40.
(14) Binisti, C.; Assogba, L.; Touboul, E.; Mounier, C.; Huet, J.;
Ombetta, J.-E.; Dong, C. Z.; Redeuilh, C.; Heymans, F.; Godfroid, J.-J.
Eur. J. Med. Chem. 2001, 36, 809–828.
(15) Yang, Y. X.; Farley, R. T.; Steckler, T. T.; Eom, S. H.; Reynolds,
J. R.; Schanze, K. S.; Xue, J. G. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 163305.
(16) Qian, G.; Dai, B.; Luo, M.; Yu, D. B.; Zhan, J.; Zhang, Z. Q.; Ma,
D. G.; Wang, Z. Y. Chem. Mater. 2008, 20, 6208–6216.
(17) Qian, G.; Zhong, Z.; Luo, M.; Yu, D. B.; Zhang, Z. Q.; Wang,
Z. Y.; Ma, D. G. Adv. Mater. 2009, 21, 111–116.
(50) Webster, S.; Fu, J.; Padilha, L. A.; Przhonska, O. V.; Hagan,
D. J.; Van Stryland, E. W.; Bondar, M. V.; Slominsky, Y. L.; Kachkovski,
A. D. Chem. Phys. 2008, 348, 143–151.
(18) Fischer, G. M.; Daltrozzo, E.; Zumbusch, A. Angew. Chem., Int.
Ed. 2011, 50, 1406–1409.
(51) Webster, S.; Padilha, L. A.; Hu, H.; Przhonska, O. V.; Hagan,
D. J.; Stryland, E. W. V.; Bondar, M. V.; Davydenko, I. G.; Slominsky,
Y. L.; Kachkovski, A. D. J. Lumin. 2008, 128, 1927–1936.
(52) Thompson, B. C.; Kim, Y. G.; McCarley, T. D.; Reynolds, J. R.
J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 12714–12725.
(53) Van Mullekom, H. A. M.; Vekemans, J. A. J. M.; Meijer, E. W.
Chem.—Eur. J. 1998, 7, 1235–1242.
(54) DuBois, C. J.; Abboud, K. A.; Reynolds, J. R. J. Phys. Chem. B
2004, 108, 8550–8557.
(55) Bredas, J. L.; Silbey, R.; Boudreaux, D. S.; Chance, R. R. J. Am.
Chem. Soc. 1983, 105, 6555–6559.
(56) Ozen, A. S.; Atilgan, C.; Sonmez, G. J. Phys. Chem. C 2007,
111, 16362–16371.
(57) Wu, C. C.; Sturm, J. C.; Register, R. A.; Tian, J.; Dana, E. P.;
Thompson, M. E. IEEE Trans. Electron Devices 1997, 44, 1269–1281.
(58) Cleave, V.; Yahioglu, G.; Le Barny, P.; Hwang, D. H.; Holmes,
A. B.; Friend, R. H.; Tessler, N. Adv. Mater. 2001, 13, 44–47.
(59) The views and conclusions contained in this document are
those of the authors and should not be interpreted as representing the
official policies, either expressed or implied, of the Defense Advanced
Research Projects Agency; the U.S. Army Aviation and Missile Research,
Development, and Engineering Center; or the U.S. Government.
(19) Luo, M.; Shadnia, H.; Qian, G.; Du, X.; Yu, D.; Ma, D.; Wright,
J. S.; Wang, Z. Y. Chem.—Eur. J. 2009, 15, 8902–8908.
(20) Webster, S.; Fu, J.; Padilha, L. A.; Przhonska, O. V.; Hagan,
D. J.; Van Stryland, E. W.; Bondar, M. V.; Slominsky, Y. L.; Kachkovski,
A. D. Chem. Phys. 2008, 348, 143–151.
(21) Belfield, K. D.; Bondar, M. V.; Yanez, C. O.; Hernandez, F. E.;
Przhonska, O. V. J. Mater. Chem. 2009, 19, 7498–7502.
(22) An, Z. S.; Odom, S. A.; Kelley, R. F.; Huang, C.; Zhang, X.;
Barlow, S.; Padilha, L. A.; Fu, J.; Webster, S.; Hagan, D. J.; Van Stryland,
E. W.; Wasielewski, S. M. R.; Marder, S. R. J. Phys. Chem. A 2009,
113, 5585–5593.
(23) Akoudad, S.; Roncali, J. Synth. Met. 1999, 101, 149.
(24) Mee, S. P. H.; Lee, V.; Baldwin, J. E. Angew. Chem., Int. Ed. Engl.
2004, 43, 1132–1136.
(25) Espinet, P.; Echavarren, A. M. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 2004,
43, 4704–4734.
(26) Stille, J. K. Angew. Chem., Int. Ed. Engl. 1986, 25, 508–524.
(27) Admassie, S.; Inganas, O.; Mammo, W.; Perzon, E.; Andersson,
M. R. Synth. Met. 2006, 156, 614–623.
(28) Steckler, T. T.; Abboud, K. A.; Craps, M.; Rinzler, A. G.;
Reynolds, J. R. Chem. Commun. 2007, 4904–4906.
(29) Jenekhe, S. A.; Lu, L. D.; Alam, M. M. Macromolecules 2001,
34, 7315–7324.
3817
dx.doi.org/10.1021/cm201424a |Chem. Mater. 2011, 23, 3805–3817