105, 1103; (c) F. Schreiber, J. Phys.: Condens. Matter, 2004, 16, R881;
(d) F. Schreiber, Prog. Surf. Sci., 2000, 65, 151; (e) V. Chechik, R. M.
Crooks and C. J. M. Stirling, Adv. Mater., 2000, 12, 1161; (f) A. Ulman,
Chem. Rev., 1996, 96, 1533.
2 R. G. Nuzzo and D. L. Allara, J. Am. Chem. Soc., 1983, 105, 4481.
3 For a recent review, see: J. J. Gooding, F. Mearns, W. Yang and J. Liu,
Electroanalysis, 2003, 15, 81.
28 A. Shaporenko, K. Heister, A. Ulman, M. Grunze and M. Zharnikov,
J. Phys. Chem. B, 2005, 109, 4096.
29 (a) M. Zharnikov and M. J. Grunze, Vac. Sci. Technol. B, 2002, 20, 1793;
(b) M. Wirde, U. Gelius, T. Dunbar and D. L. Allara, Nucl. Instrum.
Methods Phys. Res. B, 1997, 131, 245; (c) B. Ja¨ger, H. Schu¨rmann, H. U.
Mu¨ller, H.-J. Himmel, M. Neumann, M. Grunze and C. Wo¨ll, Z. Phys.
Chem., 1997, 202, 263; (d) K. Heister, M. Zharnikov, M. Grunze, L. S. O.
Johansson and A. Ulman, Langmuir, 2001, 17, 8.
4 For a recent review, see: N. K. Chaki and K. Vijayamohanan, Biosens.
Bioelectron., 2002, 17, 1.
30 Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectrometers—
Calibration of the energy scales, ISO 15472:2001.
5 See, for example: (a) S. Saha, L. E. Johansson, A. H. Flood, H.-R.
Tseng, J. I. Zink and J. F. Stoddard, Small, 2005, 1, 87; (b) K. Kim,
W. S. Jeon, J.-K. Kang, J. W. Lee, S. Y. Jon, T. Kim and K. Kim, Angew.
Chem., 2003, 115, 2395; K. Kim, W. S. Jeon, J.-K. Kang, J. W. Lee, S. Y.
Jon, T. Kim and K. Kim, Angew. Chem., Int. Ed., 2003, 42, 2293.
6 For a review, see:J. M. Tour, Acc. Chem. Res., 2000, 33, 791.
7 For a characteristic example, see: C. E. D. Chidsey, C. R. Bertozzi,
T. M. Putvinski and A. M. Mujsce, J. Am. Chem. Soc., 1990, 112, 4301.
8 Seminal paper: J. K. Whitesell and H. K. Chang, Science, 1993, 261,
73.
9 Selected recent references for SAMs on gold: (a) J.-S. Park, A. N. Vo, D.
Barriet, Y.-S. Shon and T. R. Lee, Langmuir, 2005, 21, 2902; (b) L. Wei,
K. Padmaja, W. J. Youngblood, A. B. Lysenko, J. S. Lindsey and D. F.
Bocian, J. Org. Chem., 2004, 69, 1461; (c) H. Jian and J. M. Tour, J. Org.
Chem., 2003, 68, 5091; (d) L. Zhu, H. Tang, Y. Harima, K. Yamashita,
Y. Aso and T. Otsubo, J. Mater. Chem., 2002, 12, 2250; (e) D. Hirayama,
K. Takimiya, Y. Aso, T. Otsubo, T. Hasobe, H. Yamada, H. Imahori, S.
Fukuzumi and Y. Sakata, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 532; (f) K. W.
Kittredge, M. A. Minton, M. A. Fox and J. K. Whitesell, Helv. Chim.
Acta, 2002, 85, 788; (g) H. Scho¨nherr, G. J. Vansco, B.-H. Huisman,
F. C. M. van Veggel and D. N. Reinhoudt, Langmuir, 1999, 15, 5541.
10 (a) B.-H. Huisman, D. M. Rudkevich, F. C. J. M. van Veggel and
D. N. Reinhoudt, J. Am. Chem. Soc., 1996, 118, 3523; (b) B.-H.
Huisman, E. U. Thoden van Velzen, J. F. J. Engbersen and D. N.
Reinhoudt, Tetrahedron Lett., 1995, 36, 3273; (c) E. U. Thoden van
Velzen, F. C. J. M. Van Veggel, J. F. J. Engbersen and D. N. Reinhoudt,
J. Am. Chem. Soc., 1994, 116, 3597.
31 K. Heister, M. Zharnikov, M. Grunze and L. S. O. Johansson, J. Phys.
Chem. B, 2001, 105, 4058.
32 J. F. Moulder, W. E. Stickle, P. E. Sobol and K. D. Bomben, Handbook of
X-ray Photoelectron Spectroscopy, ed. J. Chastian, Perkin-Elmer Corp.,
Eden Prairie, MN, 1992.
33 H. W. Yim, L. M. Tran, E. D. Dobbin, D. Rabinovich, L. M. Liable-
Sands, C. D. Incarvito, K.-C. Lam and A. L. Rheingold, Inorg. Chem.,
1999, 38, 2211.
34 (a) C. Jung, O. Dannenberger, Y. Xu, M. Buck and M. Grunze,
Langmuir, 1998, 14, 1103; (b) C.-J. Zhong, R. C. Brush, J. Anderegg
and M. D. Porter, Langmuir, 1999, 15, 518; (c) J. L. Trevor, K. R. Lykke,
M. J. Pellin and L. Hanley, Langmuir, 1998, 14, 1664.
35 T. Iijima, S. Tsuchiya and M. Kimura, Bull. Chem. Soc. Jpn., 1977, 50,
2564.
36 N. W. Mitzel and U. Losehand, Z. Naturforsch., Teil B, 2004, 59, 635.
37 (a) R. M. Corn and D. A. Higgins, Chem. Rev., 1994, 94, 107; (b) K. B.
Eisenthal, Chem. Rev., 1996, 96, 1343.
38 Nonlinear Optical Properties of Organic Molecules and Crystals, ed.
D. S. Chemla and J. Zyss, Academic Press, New York, 1987, vol. 1.
39 O. Dannenberger, M. Buck and M. Grunze, J. Phys. Chem. B, 1999,
103, 2202.
40 M. Buck, F. Eisert, M. Grunze and F. Tra¨ger, Ber. Bunsenges. Phys.
Chem., 1997, 3, 399.
41 R. M. A. Azzam, Ellipsometry and polarized light, North-Holland,
Amsterdam, 1987.
42 (a) D. Lin-Vien, H. B. Colthup, W. G. Fateley and J. G. Grasselli, The
Handbook of Infrared and Raman Characteristic Frequencies of Organic
Molecules, Academic Press, San Diego, CA, 1991; (b) G. Varsanyi,
Assignments for Vibrational Spectra of Seven Hundred Benzene Deriva-
tives, Adam Hilger, London, 1974; (c) N. P. G. Roeges, A Guide to
the Complete Interpretation of Infrared Spectra of Organic Structures,
Wiley, Chichester, 1994.
11 See, for example: (a) L. Zobbi, M. Mannini, M. Pacchioni, G.
Chastanet, D. Bonacchi, C. Zanardi, R. Biagi, U. Del Pennino, D.
Gatteschi, A. Cornia and R. Sessoli, Chem. Commun., 2005, 12, 1640;
(b) M. W. J. Beulen, J. Bu¨gler, B. Lammerink, F. A. J. Geurts, E. M. E. F.
Biemond, K. G. C. van Leerdam, F. C. J. M. van Veggel, J. F. J.
Engbersen and D. N. Reinhoudt, Langmuir, 1998, 14, 6424.
12 Seminal paper: E. B. Troughton, C. D. Bain, G. M. Whitesides, R. G.
Nuzzo, D. L. Allara and M. D. Porter, Langmuir, 1988, 4, 365.
13 D. J. Lavrich, S. M. Wetterer, S. L. Bernasek and G. Scoles, J. Phys.
Chem. B, 1998, 102, 3456.
43 L.-J. Wan, M. Terashima, H. Noda and M. Osawa, J. Phys. Chem. B,
2000, 104, 3563.
44 H.-T. Rong, S. Frey, Y.-J. Yang, M. Zharnikov, M. Buck, M. Wu¨hn, C.
Wo¨ll and G. Helmchen, Langmuir, 2001, 17, 1582.
14 C. Li, J. Ly, B. Lei, W. Fan, D. Zhang, J. Han, M. Meyyappan, M.
Thompson and C. Zhou, J. Phys. Chem. B, 2004, 108, 9646.
15 R. W. Boyd, Nonlinear Optics, Academic Press, London, 1992.
16 Y. R. Shen, Annu. Rev. Phys. Chem., 1989, 40, 327.
17 G. J. Kubas, L. S. van der Sluys, R. A. Doyle and R. J. Angelici, Inorg.
Synth., 1990, 28, 29.
18 D. J. Peterson, J. Organomet. Chem., 1971, 26, 215.
19 See, for example: B. I. Vainshtein, L. P. Bogovtseva, V. L. Rogachevskii,
T. L. Krasnova and E. A. Chernyshev, Russ. J. Gen. Chem., 1977, 47,
2345.
45 (a) J. T. Young, F. J. Boerio, Z. Zhang and T. L. Beck, Langmuir, 1996,
12, 1219; (b) M. K. Debe, J. Appl. Phys., 1984, 55, 3354.
46 P. Cyganik, M. Buck, W. Azzam and C. Wo¨ll, J. Phys. Chem. B, 2004,
108, 4989.
47 T. Y. P. Leung, P. Schwartz, G. Scoles, F. Schreiber and A. Ulman, Surf.
Sci., 2000, 458, 34.
48 C. L. A. Lamont and J. Wilkes, Langmuir, 1999, 15, 2037.
49 A. Shaporenko, M. Grunze and M. Zharnikov, J. Electron. Spectrosc.
Rel. Phenom., in press.
50 P. E. Laibinis, G. M. Whitesides, D. L. Allara, Y.-T. Tao, A. N. Parikh
and R. G. Nuzzo, J. Am. Chem. Soc., 1991, 113,, 7152.
51 M. W. J. Beulen, B.-H. Huisman, P. A. van der Heijden, F. C. J. M. van
Veggel, M. G. Simons, E. M. E. F. Biemond, P. J. de Lange and D. N.
Reinhoudt, Langmuir, 1996, 12, 6170.
20 SHELXS97 and SHELXL97, Programs for crystal structure solution
and refinement, G. M. Sheldrick, University of Go¨ttingen, Germany,
1997.
21 L. J. Farrugia, J. Appl. Crystallogr., 1999, 32, 837.
22 P. Wagner, M. Hegner, H.-J. Gu¨nterodt and S. Semenza, Langmuir,
1995, 11, 3867.
23 U. Siemeling, D. Rother, C. Bruhn, H. Fink, T. Weidner, F. Tra¨ger, A.
Rothenberger, D. Fenske, A. Priebe, J. Maurer and R. Winter, J. Am.
Chem. Soc., 2005, 127, 1102.
24 M. Buck, M. Grunze, F. Eisert, J. Fischer and F. Tra¨ger, J. Vac. Sci.
Technol. A, 1992, 10, 926.
25 O. Dannenberger, M. Buck and M. Grunze, J. Phys. Chem. B, 1999,
103, 2202.
52 H. Takiguchi, K. Sato, T. Ishida, K. Abe, K. Yase and K. Tamada,
Langmuir, 2000, 16, 1703.
53 Y.-W. Yang and L.-J. Fan, Langmuir, 2002, 18, 1157.
54 (a) M. Himmelhaus, I. Gauss, M. Buck, F. Eisert, Ch. Wo¨ll and M.
Grunze, J. Electron. Spectrosc. Rel. Phenom., 1998, 92, 139; (b) T.
Ishida, M. Hara, I. Kojima, S. Tsuneda, N. Nishida, H. Sasabe and W.
Knoll, Langmuir, 1998, 14, 2092; (c) T. Ishida, N. Choi, W. Mizutani,
H. Tokumoto, I. Kojima, H. Azehara, H. Hokari, U. Akiba and M.
Fujihira, Langmuir, 1999, 15, 6799.
26 M. Buck, F. Eisert, J. Fischer, M. Grunze and F. Tra¨ger, Appl. Phys. A,
1991, 53, 552.
27 M. Buck, F. Eisert, M. Grunze and F. Tra¨ger, Appl. Phys. A, 1995, 60,
1.
55 See for example: (a) A. Shaporenko, M. Brunnbauer, A. Terfort, L. S. O.
Johansson, M. Grunze and M. Zharnikov, Langmuir, 2005, 21,, 4370;
(b) K. Heister, H.-T. Rong, M. Buck, M. Zharnikov, M. Grunze and
L. S. O. Johansson, J. Phys. Chem. B, 2001, 105, 6888.
This journal is
The Royal Society of Chemistry 2006
Dalton Trans., 2006, 2767–2777 | 2777
©